عنوان مقاله :
بررسي اثرقطر نانولوله در رفتار ترانزيستورهاي نانولوله كربني با نواحي سورس و درين كمغلظت
عنوان فرعي :
Study of Nenotube Diameter Effect on Carbon NanoTube Field Effect Transistors
پديد آورندگان :
شاه حسيني، علي نويسنده دانشگاه آزاد اسلامي قزوين , , محمديان سياهكلرودي، سجاد نويسنده دانشگاه آزاد اسلامي قزوين , , فايز، رحيم نويسنده دانشگاه شريف ,
اطلاعات موجودي :
فصلنامه سال 1392 شماره 14
كليدواژه :
Lightly Doped , NEGF , ION-IOFF Ratio (ION/IOFF) , Power-Delay Production (PDP , Delay time
چكيده فارسي :
در ا ي منقاله، ترانزيستور نانولوله كربني با نواحي سورس و در ي كنمغلظت را با استفاده از روش توابع گر ينغ ي رتعادلي در
ي بعد ك شب يسهازي كردهايم . ترانزيستور نانولوله كربني كه در نزد ي ا كتيصالات سورس و در ي آنن نواحي كم غلظت در
نظر گرفتهايم، اصطلاحاً ترانزيستور LDDS-CNTFET ناميده مشو يد. در بخشي از ا ي منقاله تاث ي ترغيير قطر نانولوله را بر
روي رفتار ا ي ننوع ترانزيستور مورد بررسي قرار دادهايم. با اعمال ا ي تغ نييرات مشاهده مشو يد كه با افزا ي قط شر نانولوله
جريان حالت روشن افزا ي ياف شته ولي نسبت جريان حالت روشن به حالت خاموش كاهش يافته و زمان تاخ ي ارفزاره ن يز
كاهش ماب ييد. همچن ي با ن تغيير ياد شده حساس ي جتريان نشتي و تاخ ي رو حاصلضرب توان در تاخ ي ارفزاره همگي نسبت
به مزيان غلظت سورس و در يكناهش ماب ييد.
چكيده لاتين :
In this paper we simulate a carbon nanotube Field Effect transistor that have lightly doping in source
and drain regions (LDDS-CNTFET) using 1D Non-Equilibrium Green’s Function (NEGF) Method. The
transistor with lightly doped regions between the intrinsic channel and the highly doped source and drain
known as LDDS- CNTFET. In some part of paper, we study the relation of transistor with making change
in nanotube diameter. Applying this changes‚ due to larger ION‚ lower ON–OFF ratio (ION/IOFF) and a
shorter delay time. Leakage current, delay time and power–delay product (PDP) in a larger diameter
device, have lower sensitivity towards source and drain lightly doped regions concentration.
عنوان نشريه :
صنايع الكترونيك
عنوان نشريه :
صنايع الكترونيك
اطلاعات موجودي :
فصلنامه با شماره پیاپی 14 سال 1392
كلمات كليدي :
#تست#آزمون###امتحان