مطالعه پروفايلومتري و ميكروسكوپ الكتروني اثر پرداخت بر خشونت سطحي دو نوع كامپوزيت (با بيس سايلوران و متيل متاكريلات) و يك نوع گلاس آينومر

Profilometeric and SEM evaluation of effect of polishing on surface roughness of two composites (silorane-based and methylmethacrylate-based) and a Glass Ionomer

زمينه و هدف: هدف از مطالعه حاضر بررسی اثر پرداخت بر خشونت سطحی كامپوزيت با بيس سايلوران و مقايسه آن با كامپوزيت با بيس متاكريلات و يك نوع گلاس‌آينومر به وسيله پروفايلومتری و مطالعه با ميكروسكوپ الكترونی (SEM) بود. روش بررسی: برای هركدام از مواد مورد مطالعه (كامپوزيت Filltek P90، كامپوزيت Filtek P60 و گلاس‌آينومر Fuji IX) 28 نمونه تهيه شد. آماده‌سازی نمونه‌ها در مولد پلی‌اتيلن با قطر 4 ميلی‌متر و ارتفاع 10 ميلی‌متر انجام شد. نيمی از نمونه‌های هر ماده توسط كاغذ سنباده 180 grit از جنس سيليكون كاربايد و در حضور آب اتمام (finish) شد. سطح نيمی ديگر از نمونه‌ها ابتدا با كاغذ سنباده 180 grit و سپس به ترتيب با كاغذ سنباده‌های 250، 400، 800، 1000، 2000 و 2500 grit و در حضور آب پرداخت گرديد. خشونت سطحی نمونه‌ها توسط پروفايلومتر تماسی بررسی شد و مقادير متوسط خشونت سطحی (Ra) و حداكثر خشونت سطحی (Rmax) توسط دستگاه مشخص گرديد. سپس از هر 6 گروه مورد مطالعه، 4 نمونه به صورت تصادفی انتخاب گرديد و تحت ميكروسكوپ الكترونی FE-SEM سطح آنها بررسی شد. آناليز آماری توسط آزمون t، آناليز واريانس و آزمون Dunnett T3 انجام شد. يافته‌ها: در هر 3 ماده، Ra بين 180 و 2500grit  متفاوت بود. در 180 grit، Ra تنها بين Filtek P60 و Fuji IX اختلاف معنی‌داری داشت (01/0P=). Ra با استفاده از سمباده 2500grit  تنها بين Filtek P90 و Filtek P60 تفاوت معنی‌داری نشان نداد (56/0P=). نتيجه‌گيری: در گلاس‌آينومر و ترميم‌های كامپوزيتی خلفی مرحله پرداخت توصيه می‌شود.

Background and Aims: To evaluate the effect of polishing on surface roughness of silorane-based composite using profilometery and Scanning Election Microscopy (SEM) and compare it with that of a methylmethacrylate-based composite and a glass ionomer. Materials and Methods: In this study, 3 groups (n=28) were tested: specimens of two composites (Filtek P90 and Filtek P60) and a glass ionomer (Fuji IX) which were prepared in polyethylene molds (4 mm diameter×10 mm height). Half of the specimens in each group were finished with 180-grit silicon carbide paper and the remaining were finished with 180-grit, and subsequently polished with 250, 400, 800, 1000, 2000, and 2500-grit silicon carbide papers. The surface roughness was evaluated using a contact profilometer and then mean (Ra) and maximum (Rmax) of surface roughness were recorded. Then, the surface of 4 specimens of each subgroup was observed under SEM. Statistical analysis was performed with T-test, ANOVA and Dunnett T3 tests. Results: In all materials, Ra was different between polishing with 180 and 2500-grit silicon carbide papers. In 180-grit group, only Ra of Filtek P60 and Fuji IX showed significant difference (P=0.01). In 2500-grit group, there was no significant difference between the Ra of Filtek P60 and Filtek P90 (P=0.56). Conclusion: Polishing is recommended for the glass ionomer and posterior composite restorations.