بررسي روند آزمون تراشه هاي سيستمي بر اساس استاندارد 1500 IEEE

با پياده سازي كل سيستم بر روي يك تراشه مساتل جديدي مطرح ميشود كه يكي از مهمترين آنها آزمون هسته هاي داخلي تراشه است. اين مقاله به بررسي روند آزمون هسته هاي داخلي سيستم هاي تراشه اي (SOCs) بر مبناي استاندارد 1500 IEEE مي پردازد. در اين راستا ابتدا ساختار پوشش هسته در استاندارد 1500 مورد مطالعه قرار گرفته و سپس راهكارهاي انتقال داده آزمون در سيستم هاي تراشه اي بررسي مي شود. در انتها با انتخاب يك روش مناسب براي انتقال داده آزمون، روند آزمون يك سيستم تراشه اي بر اساس استاندارد 1500 IEEE با ارائه نمودار بلوكي تراشه و الگوريتم عمل پوشش به طور كامل مورد بررسي قرار مي گيرد.