مرکز منطقه ای اطلاع رساني علوم و فناوري - Zygo interferometer for measuring refractive index of photorefractive bismuth silicon oxide (Bi12SiO20) crystal

Title of article :

Zygo interferometer for measuring refractive index of photorefractive bismuth silicon oxide (Bi12SiO20) crystal

Author/Authors :

R. P. Shukla، نويسنده , , D. V. Udupa and M. D. Aggarwal، نويسنده ,

Issue Information :

روزنامه با شماره پیاپی سال 1998

Pages :

From page :

425

To page :

430

Keywords :

Refractive index , Interferometer , Bismuth silicon oxide

Journal title :

OPTICS & LASER TECHNOLOGY

Serial Year :

1998

Journal title :

OPTICS & LASER TECHNOLOGY

Record number :

334708

Link To Document :