Title of article
Characterization of crosstalk noise in submicron CMOS integrated circuits: an experimental view
Author/Authors
Fourniols، نويسنده , , J.-Y.، نويسنده , , Roca، نويسنده , , M.، نويسنده , , Caignet، نويسنده , , F.، نويسنده , , Sicard، نويسنده , , E.، نويسنده ,
Issue Information
روزنامه با شماره پیاپی سال 1998
Pages
10
From page
271
To page
280
Keywords
integrated circuitsnoise , crosstalk , noise measurement. , interconnections
Journal title
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY
Serial Year
1998
Journal title
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY
Record number
341237
Link To Document