Use of a mass-thickness marker to estimate systematic errors and statistical noise in the detection of phosphorus by electron spectroscopic imaging

K. Richter، نويسنده , , A. Haking، نويسنده , , H. Troester، نويسنده , , E. Spiess، نويسنده , , H. Spring، نويسنده , , W. Probst، نويسنده , , P. Schultz، نويسنده , , J. Witz ، نويسنده , , M. Trendelenburg، نويسنده ,

روزنامه با شماره پیاپی سال 1997

12

407

418

EFTEM , ESI , Phosphorus , two-window difference method , three-window power-lawmethod , jump ratio , mass-thickness contrast , noise. , electron spectroscopic imaging

Micron

1997

Micron

356705