Title of article :
Measurement of crystal thickness and orientation from selected-area Fourier transformation of a high-resolution electron hologram
Author/Authors :
K. Du، نويسنده , , Y.M. Wang، نويسنده , , H. Lichte ، نويسنده , , H.Q. Ye، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 2006
Pages :
6
From page :
67
To page :
72
Keywords :
Quantitative electron microscopy , Electron holography , high-resolution transmission electron microscopy
Journal title :
Micron
Serial Year :
2006
Journal title :
Micron
Record number :
357297
Link To Document :
https://search.isc.ac/dl/search/defaultta.aspx?DTC=10&DC=357297