Title of article :
Fault analysis and automatic test pattern generation for break faults in programmable logic arrays
Author/Authors :
Hwang، نويسنده , , G.-H.; Shen، نويسنده , , W.-Z.، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 1996
Journal title :
I E T Circuits, Devices and Systems
Journal title :
I E T Circuits, Devices and Systems
