Title of article :
Fault analysis and automatic test pattern generation for break faults in programmable logic arrays
Author/Authors :
Hwang، نويسنده , , G.-H.; Shen، نويسنده , , W.-Z.، نويسنده ,
Issue Information :
روزنامه با شماره پیاپی سال 1996
Pages :
10
From page :
157
To page :
166
Journal title :
I E T Circuits, Devices and Systems
Serial Year :
1996
Journal title :
I E T Circuits, Devices and Systems
Record number :
371104
Link To Document :
بازگشت