شماره ركورد كنفرانس :
174
عنوان مقاله :
بررسي خواص ساختاري لايه هاي تلوريد كادميوم تهيه شده به روش نشست زاوايه اي مايل در خلا
پديدآورندگان :
قوامي ميرمحله فيض اله نويسنده دانشگاه سمنان - دانشكره فيزيك - آزمايشگاه لايه نازك , عزيزي سميه نويسنده دانشگاه سمنان - دانشكده فيزيك - آزمايشگاه لايه نازك , رضاقلي پور ديزجي حميد نويسنده دانشگاه سمنان - دانشكده فيزيك - آزمايشگاه لايه نازك , احساني محمدحسين نويسنده دانشگاه سمنان - دانشكده فيزيك - آزمايشگاه لايه نازك , خرم آبادي شيوا نويسنده دانشگاه سمنان - دانشكده فيزيك - آزمايشگاه لايه نازك
تعداد صفحه :
4
كليدواژه :
لايه هاي تلوريد كادميوم , خواص ساختاري , لايه هاي شيشه اي , روش گسيل , خواص مورفولوژي
سال انتشار :
1391
عنوان كنفرانس :
دومين كنفرانس رشد بلور ايران
زبان مدرك :
فارسی
چكيده فارسي :
لایه های تلورید كادمیوم به روش تبخیر حرارتی ساخته شدند. در این كار جهت بررسی اثر چرخش زیر لایه همراه با لایه نشانی زاویه دار، تجهیزاتی خاص طراحی و مورد استفاده قرار گرفت. با استفاده از این روش، عمل لایه نشانی در زاویه های مختلف روی زیر لایه های شیشه ای انجام شد. مطالعه ساختاری و بررسی مورفولوژی نمونه ها با استفاده از میكروسكوپ الكترونی رویشی گسیل میدان و تحلیل پراش اشعه ایكس x انجام گردید. مشاهده شد كه لایه نشانی زاویه دار تاثیر بسزایی بر روی خواص ساختاری نمونه ها می گذارد. نتایج میكروسكوپ الكترونی رویشی گسیل میدان تغییر مورفولوژی سطح نمونه ها را به خوبی نشان داد. اندازه بلورك ها و جهت ترجیهی لایه ها با استفاده از نتایج تحلیل پراش اشعه x بدست آمد.
چكيده لاتين :
Cadmium telluride films were prepared by thermal evaporation technique. In this work, a special apparatus designed and employed to investigate the effect of substrate rotation along with angled deposition. Using this method, films were grown on the glass substrates at different angles. The samples were analyzed using field emission scaning electron microscopy (FESEM) and X-ray diffraction (XRD) techniques. It was observed that angle diposition had significant effect on structural properties of the samples. FESEM results revealed the change on the surface morphology of the samples. The crystallite size and preferred orientation of the films were obtained from XRD profiles
شماره مدرك كنفرانس :
4474719
سال انتشار :
1391
از صفحه :
1
تا صفحه :
4
سال انتشار :
1391
لينک به اين مدرک :
بازگشت