شماره ركورد كنفرانس :
1730
عنوان مقاله :
مقايسه آسيب پرتويي ديودهاي BYV27 و BYV95C به روش C-V
پديدآورندگان :
حسيني امير نويسنده , فقهي اميرحسين نويسنده , شكوفا اميد نويسنده , دانشور حميده نويسنده
كليدواژه :
غلظت حاملهاي موثر , آسيب پرتويي , پارامترb , روش C-V , پارامتر inv
عنوان كنفرانس :
بيستمين كنفرانس مهندسي برق ايران
چكيده فارسي :
دراثر اندركنشهای نوترون درقطعات الكترونیكی مشخصات الكتریكی آنها مانند ظرفیت خازنی جریان بایاس معكوس و طول عمر حامل اقلیت تغییر كرده و موجب اختلال درعملكرد قطعه می شود یكی ازروشهای متداول درتعیین پارامتر وابسته به آسیب استفاده از تكنیك C-V است مقادیر استخراج شده ازا ین روش دو پارامتر B,inv است كه معیاری برای آسیب وارده برقطعه می باشد هدف ازانجام این كار اندازه گیری و مقایسه این پارامترها برای دیودها BYV27 و BYV95 است كه تحت تابش راكتور تحقیقات تهران پرتودهی شده اند نتایج بدست آمده حاكی ازانطباق بسیارخوب روابط تئوری با نتایج تجربی است درمقایسه با دودیود مذكور دیود BYV27 برای محیطهای تابشی مناسب تر است.
شماره مدرك كنفرانس :
4460809
