شماره ركورد كنفرانس :
3736
عنوان مقاله :
بررسي تاثير شدت دوز در دوزيمتري با استفاده از ماسفتهاي تجاري
پديدآورندگان :
اسلامي بهارك گروه فيزيك هسته اي، دانشگاه پيام نور، ايران
كليدواژه :
MOSFET , dosimeter , gamma irradiation , threshold voltage , dose rate , annealing.
عنوان كنفرانس :
اولين همايش ملي فيزيك دانشگاه آزاد اسلامي
چكيده فارسي :
در اين مقاله از ماسفت هاي تجاري براي بررسي قابليت انها به عنوان دوزيمتر تابش گاماي ناشي از چشمه Co 60 استفاده شده است. بررسي بر اساس مطالعه تاثير شدت دوز تابش دهي انجام يافته است. مطابق نتايج بدست امده، ماسفتهاي مورد مطالعه رفتار خطي خوبي در شيفت ولتاژ استانه شان با دوز تابش و همچنين با تاثير شدت دوز و نيز بازپخت در دماي اتاق از خود نشان مي دهند.
