شماره ركورد كنفرانس :
3746
عنوان مقاله :
P47. بررسي مغناطومقاومت بزرگ در چند لايه‌اي‌هاي نيكل/مس ساخته شده به روش الكترونهشت
عنوان به زبان ديگر :
Investigation of Giant Magnetoresistance in Ni/Cu Multilayers Fabricated via Electrodeposition Method
پديدآورندگان :
جميل پناه لقمان loghmanjamilpanah@yahoo.com دانشكده فيزيك دانشگاه شهيد بهشتي،؛ , عرفاني فام سليم s.erfanifam@gmail.com دانشكده فيزيك دانشگاه شهيد بهشتي،؛ , محسني عزيز s.amohseni@yahoo.com دانشكده فيزيك دانشگاه شهيد بهشتي،؛ , ساداتي سيد مصطفي ahmad.rezayi24@gmail.com دانشكده فيزيك دانشگاه شهيد بهشتي،؛ , محسني سيد مجيد majidmohseni@gmail.com دانشكده فيزيك دانشگاه شهيد بهشتي،؛
كليدواژه :
, 70.00 , 72.10 , 73.50 , 75.20
عنوان كنفرانس :
سيزدهمين كنفرانس ماده چگال انجمن فيزيك ايران
چكيده فارسي :
چند لايه اي هاي نازك فلزي مغناطيسي و غير مغناطيسي براي اثر مغناطومقاومت پيشنهاد شده اند. در اين تحقيق چند لايه اي هاي (نيكل/مس) با تعداد تكرار 10 و با ضخامت هاي مختلف لايه نيكل و مس به روش الكترونهشت بر روي زيرلايه سيليكون نوع n ساخته شدند و ضخامت هاي لايه هاي ساخته شده توسط قانون فارادي براورد گرديدند. ضخامت سنجي هاي انجام شده حاكي از انطباق ضخامت هاي برآوردي از قانون فارادي و ضخامت سنجي است. مغناطومقاومت نمونه ها در بازه 120 اورستد اندازه گيري شد و مغناطومقاوت بيشينه 0.524% در نمونه با ضخامت لايه مس 1.4 نانومتر و ضخامت لايه نيكل 5.6 نانومتر بدست آمد. اين امر با توجه به عمق نفوذ اسپيني در لايه مس توضيح داده شد.
چكيده لاتين :
Magnetic and nonmagnetic thin metallic multilayers have been suggested. In this research (Ni/Cu)10 multilayers with different thicknesses of Ni and Cu layers fabricated by electrodeposition method on Si (n type) substrate and the thickness of fabricated layers evaluated by faraday law. Profilometry measurements showed a good agreement between the thicknesses calculated from Faraday law and the thickness of the layers. Magnetoresistance of samples measured at up to 120 Oe and maximum magnetoresistance obtained at sample with 1.4 nm thickness of Cu layer and 5.6 nm thickness of Ni layer. This phenomena behavior explained according to the limitation of spin diffusion length of electron in Cu layer.
