آناليز قابليت اطمينان زيرسيستم الكترونيك و پردازش حسگر مغناطيسيFluxgate با استفاده از رويكرد درخت خطا

Reliability Analysis of Electronic and Processing Subsystem of Fluxgate Magnetic Sensor Using Fault Tree Approach

اين مقاله به ارزيابي قابليت اطمينان زيرسيستم الكترونيك و پردازش حسگر مغناطيسي Fluxgate با استفاده از رويكرد درخت خطا مي پردازد. با توجه به نقش حياتي زيرسيستم الكترونيك و پردازش به عنوان يكي از زيرسيستم هاي حياتي در تحريك حسگر و خوانش داده از آن جهت تشخيص ميدان مغناطيسي زمين، ارزيابي قابليت اطمينان اين زيرسيستم ضروري به نظر مي رسد. پس از بررسي درخت خطاي مربوط به مدارهاي مختلف زيرسيستم و محاسبات مربوط به نرخ خرابي اجزاء، پارامترهاي قابليت اطمينان زيرسيستم مورد محاسبه قرار مي گيرد. نتايج محاسبات نشان مي دهد كه قابليت اطمينان زيرسيستم مذكور پس از گذشت پنج سال از عمر سيستم به 97.1% مي رسد. رويكرد به كار گرفته شده در بررسي فرآيندهاي خرابي زيرسيستم مورد مطالعه در اين پژوهش، منجر به يك تخمين حداقلي و محافظه كارانه از قابليت اطمينان زيرسيستم شده و نتايج قابل قبولي را به نمايش مي گذارد.

In this paper the reliability of the electronic and processing subsystem of the fluxgate magnetometer is evaluated and calculated based on fault tree approach. According to the vital role of this subsystem as the momentous portion in exciting this sensor and data processing, it is evident that the assessment of the reliability of this subsystem is necessary. After considering the fault trees for different subsystem circuits and calculating failure rate of components, the subsystem reliability parameters are computed. The results show that the reliability of this subsystem reaches to 97.1% after five years system life. The approach applied to this study leads to a minimalistic and conservative estimate of subsystem reliability and satisfactory results.