شماره ركورد كنفرانس :
3294
عنوان مقاله :
طراحي و ساخت سامانه لايه نشاني چرخشي و فوتوليتوگرافي
عنوان به زبان ديگر :
Design and Fabrication of a table-top Spin-coater and UV-curing unit
پديدآورندگان :
حسيني علي دانشگاه آزاد اسلامي ابهر - باشگاه پژوهشگران جوان و نخبگان , سوالوني هادي دانشگاه تهران - دانشكده فيزيك , ارسكي صادق دانشگاه صنعتي اميركبير - دانشگاه تهران - دانشكده علوم و مهندسي پليمر - شركت نانوتجهيز شرق
كليدواژه :
طراحي , سامانه لايه نشاني چرخشي , فوتوليتوگرافي , فيزيك نيمرساناها , انتقال الگو
سال انتشار :
بهمن 1395
عنوان كنفرانس :
سيزدهمين كنفرانس ماده چگال انجمن فيزيك ايران
چكيده فارسي :
انتقال الگو يكي از بخش هاي مهم اكثر فعاليت هاي تحقيقاتي در عرصه فيزيك نيمرساناها مي باشد. سامانه هاي تجاري انتقال الگو با توجه به دقت بسيار بالا قيمت هاي گزافي داشته و در دسترس همگان نمي باشند. طي اين پروژه، مجموعه لايه نشاني چرخشي و تابش دهي براي انتقال الگو مناسب بسياري از فعاليت هاي تحقيقاتي طراحي و ساخته شد. در راستاي آزمودن قابليت هاي اين مجموعه تعداد الگو به فوتورزيست نشانده شده بر زيرلايه شيشه اي منتقل گرديدند. ساخت اين مجموعه مستلزم هزينه زيادي نبوده و سامانه دقت قابل قبولي دارد. با سامانه پيشنهادي طرح هاي با دقت 10 ميكرومتر قابل انتقال مي باشند.
چكيده لاتين :
Lithography is an essential part of almost any scientific research and graduate level educational activity. Commercial photo-lithography setups are designed for high precision activities and as such are very expensive and thus inaccessible to many. In this work, we designed and built a photo-lithography setup suitable for many research laboratories. In order to test the system, a number of patterns were transferred to photo-resist thin layers deposited on glass substrates. The proposed system is easy to build –does not require much technical knowledge, inexpensive and has acceptable accuracy. Our tests have shown that with the proposed system, one could produce patterns with resolutions down to 10 μm. This limit could be lifted by using high quality masks or a simple optical reduction system
كشور :
ايران
تعداد صفحه 2 :
4
از صفحه :
1
تا صفحه :
4
لينک به اين مدرک :
بازگشت