شماره ركورد كنفرانس :
3375
عنوان مقاله :
تاثير هندسه گيت بر عملكرد ترانزيستورهاي اثر ميداني گرافين دو لايه
عنوان به زبان ديگر :
Gate geometry effect on the performance of the graphene bilayer field effect transistor
پديدآورندگان :
محمدزاد جلالي فاطمه دانشگاه تبريز - پژوهشكده فيزيك كاربردي و ستاره شناسي , عسگري اصغر دانشگاه تبريز - پژوهشكده فيزيك كاربردي و ستاره شناسي , عبدالهي پور بابك دانشگاه تبريز - دانشكده فيزيك
كليدواژه :
ترانزيستورهاي , گرافين دو لايه , تاثيرهندسه گيت
سال انتشار :
بهمن 1393
عنوان كنفرانس :
دوازدهمين كنفرانس ماده چگال انجمن فيزيك ايران
زبان مدرك :
فارسي
چكيده فارسي :
در اين مقاله يك مدل تحليلي براي ترانزيستورهاي اثر ميداني گرافين دو لايه ارائه شده است. مدل حاكم بر مساله بر اساس انرژي جنبشي بولتزمن براي ترابرد الكترونها و معادله پواسن براي توزيع پتانسيل در طول كانال است. با استفاده از اين مدل، يك رابطه تحليلي صريح براي توزيع پتانسيل الكتريكي الكترونها در قسمتهاي مختلف كانال و مشخصه جريان - ولتاژ براي ترانزيستورهاي اثر ميداني گرافين دو لايه محاسبه شد. نتايج محاسبات نشان مي دهد كه جريان و ترارسانش (transconductance) به ولتاژ گيت، طول گيت، فاصله گيت از سورس و درين و ضخامت لايه هاي ديالكتريك وابسته بوده و همچنين ماكزيمم مقدار ترارسانش با تغييرات مقدار متوسط طول برخورد تغيير مي نمايد.
چكيده لاتين :
In this paper an analytical device model for a graphene bilayer field–effect transistor (GBL-FET) with a graphene bilayer as a channel has been reported. The model is based on Boltzmann equation for the electron transport and the Poisson equation for the potential along the GBL-FET channel. By using this model we find an explicit analytical formulas for the distribution of the electric potential along the channel and current-voltage characteristics for the GBL-FET. Our calculations show that the source-drain current in GBLFET and their transconductance are dependent on the gate voltages, channel length, distance between the gate and the source-drain and thicknesses of the dielectric layers of the device and also that the maximum value of transconductance is dependent on the scattering length.
كشور :
ايران
تعداد صفحه 2 :
4
از صفحه :
1
تا صفحه :
4
لينک به اين مدرک :
بازگشت