آرايه هاي نانوسيم هاي مغناطيسي ؛ مشخصه يابي با روش هاي IBA

Magnetic nanowire arrays, characterization by IBA methods

اين مقاله به بررسي نمايه عمقي و غلظت آرايه نانوسيم هاي مغناطيسي در آلوميناي آندي متخلخل با استفاده از روش هاي تجزيه و تحليل باريكه يوني (BA) مي پردازد . قالب هاي آلوميناي متخلخل با نظمي بسيار بالا با دو مرحله آندايز بدست آمده و آرايه نانوسيم هاي آهن و مس با تكنيك الكتروشيمي در داخل قالب ها رشد داده شد. تركيب و نمايه عمقي آرايه نانوسيم ها با روش طيف سنجي پس پراكندگي را در فورد (RBS) با باريكه پروتون تعيين شد. علاوه بر اين، آناليز پيكسي (PIXE) به منظور بررسي درصدي از غلظت عناصر آرايه نانوسيم نيز به كار گرفته شد . بررسي ها نشان داد كه اين روشها براي تعيين پروفايل عمق و غلظت آرايه نانوسيم مي تواند بسيار موثر باشند.

This paper examines the depth profile and concentration of magnetic nanowire arrays in porous anodic alumina by means of ion beam analysis (IBA) techniques .the highly ordered templates were obtained through two- step anodization process, and the Fe and Cu nanowire arrays were grown by electro deposition techniques. The composition and depth profile of nanowire arrays was determined by Rutherford backscattering spectroscopy (RBS) with Proton beam. Further, Particle Induced X-ray Emission (PIXE) analysis was used to measure the concentrations of nanowire arrays .It was found that these methods are very efficient to determine depth profile and concentration of nanowire arrays.