مغناطومقاومت ناهمسانگرد در لايه هاي نازك منگنايت هاي La0.85A0.15MnO3-δ A=Sr,Ca

Anisotropic magnetoresistance (AMR) in thin films of La0.85A0.15MnO3-δ(A=Sr,Ca) manganites

در اين مقاله اندازه گيري مغناطو مقاومت ناهمسانگرد (AMR) مربوط به نمونه هاي كپه اي و لايه نازك La0.85A0.15MnO3- (A=Ca,Sr رشد يافته بر روي زيرلايه LaA103 مورد مطالعه قرار گرفته است. نتايج XRD نشان مي دهد كه لايه ها به صورت تك محور رشد يافته اند. اثر AMR در هر دو نمونه كپه اي و لايه نازك با كمك اندازه گيري مقاومت الكتريكي نمونه ها بر حسب دما در حضور و عدم حضور ميدان مغناطيسي مورد مطالعه قرار گرفت. نتايج نشان داد كه اثر AMIR در لايه هاي نازك La0.85Ca0.15MnO3 بزرگتر از La0.85Sr0.15MnO3 مي باشد.

In this work, we investigated the anisotropic magnetoresistance (AMR) of polycrystalline balk and thin film samples of La0.85A0.15MnO3-δ (A=Ca,Sr) manganites grown on LaAlO3 (LAO) substrate. The XRD patterns show that thin films are c-axis oriented. The AMR effect was studied using temperature dependence of resistance in the presence of an external magnetic field. The results show that thin film of La0.85Ca0.15MnO3 exhibit larger AMR relative to thin film of La0.85Sr0.15MnO3.