بررسي خواص اپتيك غيرخطي لايه‌هاي نازك نانوساختار مس تهيه شده با روش لايه‌نشاني تبخير گرمايي مقاومتي

Investigation of Nonlinear Optical Properties of Thin Cu Nano-Structure Films Prepared by Resistance Thermal Evaporation deposition

دراين مقاله خواص اپتيك غير خطي لايه #38;shy;هاي نازك نانوساختار مس شامل ضريب شكست و ضريب جذب غيرخطي مورد بررسي قرار گرفته اند. نمونه ها در دو ضخامت nm 25 و nm130 و با روش لايه #38;shy;نشاني تبخير گرمايي مقاومتي تهيه شده اند، همچنين از تكنيك جاروب-Z با ليزر ديودي پيوسته در طول موج nm532 ، براي بدست آوردن خواص اپتيك غيرخطي استفاده شده است. نتايج اين بررسي نشان مي #38;shy;دهد ضريب شكست غيرخطي با افزايش ضخامت لايه #38;shy;ها تغيير علامت مي #38;shy;دهد و ضريب جذب غير خطي كاهش مي #38;shy;يابد.

In this paper, the nonlinear optical properties of copper nanostructure thin-films, including nonlinear refractive index and absorption coefficient, have been investigated. The samples were prepared in two thicknesses of 25 nm and 130 nm by Resistance Thermal Evaporation(RTE) deposition method, also the Z- Scan technique with continuous diode laser at 532 nm was used to obtain nonlinear optical properties. The results of this study shows that the sing of nonlinear refractive index changes with increasing thickness of the films, and the nonlinear absorption coefficient decreases.