بررسي يك روش معكوس براي استخراج ثابت دي الكتريك محلي با استفاده از ميكروسكوپ نوري روبشي ميدان نزديك

Investigation of an inverse method for local dielectric constant extraction using scanning near field optical microscopy

در اين مقاله به بررسي يك روش معكوس براي استخراج ثابت دي الكتريك محلي يك نمونه با استفاده از ميكروسكوپ نوري روبشي ميدان نزديك مي‌پردازيم. هدف از توسعه روش معكوس در ميكروسكوپ نوري روبشي ميدان نزديك، استخراج ثابت دي الكتريك نمونه از روي ميدان پراكنده شده از يك نمونه برداري سوزني كه در نزديكي نمونه قرار گرفته است، مي‌باشد. بديهي است ثابت دي الكتريك استخراج شده ناشي از اندركنش ميدان نزديك نمونه بردار سوزني با سطح كوچكي از نمونه است و به اين دليل به آن لفظ محلي اتلاق مي‌كنيم. در ابتدا فرمولبندي تحليلي روش معكوس بر اساس نحوه تعامل موج تابشي با نمونه و نمونه بردار در حوزه فركانس ارائه مي‌شود. در اين مدل از يك كره عايق بعنوان نوك نمونه بردار سوزني كه در نزديكي يك نيم فضاي عايق بعنوان نمونه قرار گرفته است، استفاده مي‌شود. در ادامه همگرايي اين روش با توجه به پارامترهاي موجود بررسي مي شود و در انتها به تاثير حضور نويز در اين روش معكوس خواهيم پرداخت.