بررسي ويژگي‌ هاي ساختاري گرافن با استفاده از طيف سنجي رامان

Investigation of structural features of graphene using Raman spectroscopy

طيف سنجي رامان يكي از روش هاي پركاربرد در آناليز مواد مبتني بر كربن مانند گرافن محسوب مي شود. نتايج پژوهش پيش رو، توانايي تكنيك طيف سنجي رامان در شناسايي تعداد لايه ها، نقص و لبه در گرافن را نشان مي دهد. براي تعيين تعداد لايه در گرافن از پارامترهايي نظير نسبت شدت هاي دو قله اصلي طيف رامان، فركانس و پهناي قله 2D استفاده شد و براي شناسايي نقص، رفتار قله ي ناشي از نقص مورد بررسي قرار گرفت. در ادامه براي بررسي اثر تابش ليزري روي گرافن، طيف هاي متفاوتي با افزايش توان ليزر روي نمونه ثبت شدند. نتايج، عدم آسيب به نمونه توسط تابش ليزري و بروز يك رفتار خطي از   نسبت به افزايش توان ليزر را نشان مي دهند.

Raman spectroscopy is one of the widely used methods in the analysis of carbon-based materials such as graphene. The results of this research demonstrate the ability of the Raman spectroscopy technique to identify the number of layers, defects, and edges in graphene. To determine the number of layers in graphene, parameters such as the ratio of the intensities of the two main peaks of the Raman spectrum, the frequency, and the FWHM of the 2D peak were used, and to identify the defect, the behavior of the D peak caused by the defect was investigated. Next, different spectra were recorded on the sample with increasing laser power to investigate the effect of laser radiation on graphene. The results show no damage to the sample by laser radiation and a linear behavior of    with increasing laser power.