Title :
How to reduce disturb sensitivity in ferrite-core analog memories
Author :
Kühnen, Cuntell B.
Author_Institution :
Institute für Nachrichtengeräte und Datenverarbeitung, Technische Hochschule, Aachen, West Germany
fDate :
9/1/1970 12:00:00 AM
Keywords :
Analog memories; Ferrite core memories; Analog memory; Diodes; Ferrites; Hysteresis; Magnetic cores; Testing; Voltage control; Writing;
Journal_Title :
Magnetics, IEEE Transactions on
DOI :
10.1109/TMAG.1970.1066844