Dhong, S. ; Henkels, W. ; Lu, N. ; Scheuerlein, R. ; Brunner, G. ; Kitamura, K. ; Katavama ; Niijima, H. ; Kirihata, T. ; Franch, R. ; Hwang, W. ; Nishiwaki, M. ; Pesavento, F. ; Rajeevakumar, T. ; Sakaue, Y. ; Suzuki, Y. ; Vano
Author_Institution :
IBM T.J.Watson Research Center
fYear :
1989
fDate :
25-27 May 1989
Firstpage :
107
Lastpage :
108
fLanguage :
English
Publisher :
ieee
Conference_Titel :
VLSI Circuits, 1989. Digest of Technical Papers., 1989 Symposium on
