بررسي خواص ساختاري، ريخت‌شناسي، نوري و مغناطيسي الياف اكسيد كبالت الكتروريسي شده

هدف از اين پژوهش، مشخصه يابي الياف اكسيد كبالت تهيه شده به روش الكتروريسي است. بررسي ويژگي هاي ساختاري، ريخت شناسي، نوري و مغناطيسي الياف، به ترتيب، با استفاده از الگوي پراش پرتو ايكس (XRD)، ميكروسكوپ الكتروني روبشي (SEM)، طيف سنجي بازتابشي پخشي (DRS) و آناليز مغناطيس سنج نمونه ارتعاشي (VSM)، در دو دماي تكليس متفاوت، صورت گرفت. الگوي پراش پرتو ايكس، فاز مكعبي را براي الياف اكسيد كبالت تكليس شده نشان مي دهد. متغيرهاي ريزساختاري، از قبيل اندازه و تابع توزيع بلورك ها، با استفاده از آناليز الگوي پراش پرتو ايكس و روش برازش كل نقش پراش (WPPM) تعيين شد. نتايج بدست آمده از تحليل الگوي پراش پرتو ايكس و توزيع اندازه بلورك ها، افزايش اندازه بلورك ها را با افزايش دماي تكليس، نشان مي دهد. تصاوير ميكروسكوپ الكتروني روبشي، توليد اليافي با قطر متوسط 250200 نانومتر و با جهت گيري تصادفي را نشان مي دهد. نتايج بدست آمده از طيف سنجي بازتابشي پخشي، كاهش انرژي گاف نواري الياف را با افزايش دماي تكليس، نشان مي دهد. آناليز مغناطيسي انجام گرفته با استفاده از VSM، فاز پارامغناطيسي الياف را با افزايش دماي تكليس، تأييد مي كند.